| 测量精度 | ppm |
|---|---|
| 测量时间 | 60秒 |
| 测试范围 | 0-99.989% |
| 产地 | 进口 |
| 电源电压 | 220VHZ |
| 类型 | 002 |
| 上市时间 | 2018 |
| 适用范围 | 0-99.989%浓度值 |
| 品牌 | 其它 |
| 加工定制 | 是 |
| 可测元素 | 全元素 |
我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、液相色谱仪（LC）、能谱仪（EDS）、频红外碳硫分析仪（CS Analyzer）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰（贵金属及镀层检测等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中规定的有害物质：铅Pb、砷Ａs、锑Sb、钡Ｂa、镉Cd、铬Cr、Ｈg、硒Se以及氯等卤族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（铜合金、铝合金、镁合金等）、冶金（钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等）、地质采矿（各种矿石品位检测设备）、塑料（无卤测试等）、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、、商品检验、质量检验、人体微量元素检验等等。总之销售的仪器设备应用于元素分析，化合物测试，电镀镀层厚度检测.
对于地质、采矿、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石油化工、玩具、大型工程、有害元素、锅炉制造、电镀镀层、再生资源金属、玻璃等各种元素分析.有两种分析方法，物理分析和湿化学分析.物理分析一般是用X荧光光谱仪测试，使用简单方便，湿化学分析一般是指实验室使用的高精度分析设备，精度高，测试稳定，结果可信度高。以下是这两种设备介绍：
X射线荧光光谱分析仪：
X射线荧光光谱分析仪 应对有害元素检测、油品分析、矿石分析、合金测试、不锈钢分析、电镀镀层、环境分析的产品，目前正服务于各大重要部门。
仪器独特性能
超高的检测精高。
超高的稳定性，超高的重复性。
优异的线性相关性。
铑元素阳本身就提高了2倍检测镁元素的结果。
超大型SDD硅漂移探测器的使用将从镁到硫元素的检测下限/精度提高了四倍。
超大型SDD硅漂移探测器的使用提高了五倍银元素的检测下限，两倍镉元素的检测下限
采用了完全重新设计的射线管、无高压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。
结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，对于某些应用信号提高了~40%.
新的滤波轮更轻、更薄，在位置上更加接近被测样品，具有8 个滤波器，可适应配置，不同的元素采用不同的滤波器，产生分析效果。
超过1/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有专用的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。
超大型SDD硅漂移探测器具有惊人的计数率,高达250000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高12.5倍。
内置的气压计可以纠正气压，气压计压力感应, 可根据不同的压力调整，从而是检测值更加准确，仪器预设海平面，用户上山或者下到一个矿里测试，无需再次校准，这点对轻元素分析很重要。
内置的加速器可探测运动和震动，使仪器不用时待机，拿起时工作。
真空系统（选配）：真空系统可提高Mg;Al;Si;P;S等轻质元素的检测下限。
智能接驳座可对额外电池充电、仪器内置电池同时充电并显示充电进度，接驳座能连接电脑交换数据，可让仪器即时标准化，仪器随时待命状态。
仪器即使在开机状态下也可更换电池而并不需要关机，在系统运作中拔掉电池，有超过30秒的时间可以插入一个新电池。
仪器开机并不需要标准化，可以直接测试，标准化仅仅是可选项。
仪器外壳采用铝合金、塑胶设计，坚固耐用，手柄软胶设计，手感好,更适合长时间使用。
仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感。
可选配GIS数据采集手簿TRIMBLE，通过Arcpad软件将数据与GPS实现绑定，可将仪器测试点的矿化信息通过蓝牙传到TRIMBLE上,再与TRIMBLE上自动产生的经度、纬度、海拔进行连接,实现测试信息与GPS同步处理。
数据与GPS同步输出，可在每一个测试结果中自动附加GPS信息,这些结果可以被专业的地球物理分析软件自动引用。
GPS可以实现用户自定义。
选配GIS数据采集手簿TRIMBLE产生的数据可以很容易地被ioGAS软件引用，它能进行各种统计，绘制地质3D调查图，能产生可搜索文件。通过可以很容易找到实景地图，Explorer测试的每一个点皆可以显示在屏幕实际地图中,只要选取屏幕地图中的点就可以查看分析数据与GPS数据。
工业级可触摸的显示屏与主机一体化密封设计，可承受野外恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的矿山环境中长时间正常工作。
仪器技术性能
真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的ppm含量与百分比含量。
只需将矿石分析仪直接接触待测矿石表面，无须等待和花费时间即可现场确定矿石等级。
被检测的样品的对象可以是矿石、岩石、矿渣、碎片;土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油等等的固体、液体物质。
快的分析速度, 仅需2秒钟就可识别元素。
用户化windows CE 6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成，用户化windows CE仅保留有windows与Delta系统有关的性能，使程序更具灵活性。
无需借助电脑，可在现场随意，查看，放大相关元素的光谱图。
防尘,防雾,防水：一体机设计，软胶与塑胶部件凹凸槽构造设计，使仪器具有很好的三防性能，可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。
超大功率。40KV，100mA高达4W的大功率X射线管技术使仪器具有更低检测下限。
腰带、枪套、肩带能将仪器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活动自如。
更高的检测精度，多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。
超大的图标显示，菜单式驱动，微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。
电磁干扰被屏蔽，即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
仪器元素分析范围
可分析从从镁(Mg)到钚(Pu)之间的所有83种元素。
| 仪器分析模式与元素种类 | ||
| 分析模式 | 分析元素 | |
| 元素分析范围 | 分析外围：从12号元素Mg到94号元素PU范围内的34种基本元素，在以上范围内，可以根据客户需要更换其他元素。 | |
| Mining模式 （%含量） | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi等19元素。 | |
| Two beam mining模式 （%含量） | Mg, Al, Si, P, S, Cl、K、Ca、Ti、Mn等10元素 | |
| Soil模式 （ppm含量） | Beam1 | Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Pt, Au, Hg, Pb 等23元素 |
| Beam2 | Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Hg, Pb, Bi, Th, U等24元素 | |
| Beam3 | P、S、Cl、K、Ca、Ti、Cr 、Mn、Fe、I、Ba 等11元素 | |
实验室使用的仪器（ICP)：
应用领域：
1、冶金行业 2、贵金属行业 3、环保行业 4、地矿行业 5、稀土行业 6、玩具及消费行业7、其他行业
仪器性能特点：
1、仪器自动化程度高
仪器的自动化程度极高，除了电源开关外，所有操作均由软件完成。智能化的软件，可实时可对各项操作进行实时反馈及信息提示。
2、安全可靠的固态射频电源
仪器采用的射频电源，具有体积小、输出效率高、输出功率稳定，带有水路、气路及过载等各类安全保护功能，大大提升仪器的安全性，减小了仪器的故障率。
3、全自动点火及匹配技术
软件可全自动一键点火，所有的参数设置变化，均自动完成。配合先进的自动匹配技术，点火成功率高，操作简便。
4、智能化的火焰监视功能
仪器配置了灵敏度极高的光纤传感器，可在仪器工作状态下，实时监测火焰的工作情况，如遇异常熄火情况，可自动关闭仪器。
5、超高分辨率的光路系统
仪器配置了超高分辨率的4320刻线的进口光栅，配合特有的光路调节技术，把普通仪器的分辨率约0、008nm降低至0、005nm以内，超高的分辨率保证了测试元素之间没有相互干扰。
6、精度极高的恒温系统
仪器整体光路采用精密恒温系统保护，温度的控制可根据客户实验室实际环境温度实时设定，无需长时间不间断的开可调，控温精度≤±0、1℃，精密的恒温系统保证了光路的稳定性，测试数据更稳定。
7、高精度的气流控制系统
仪器工作中的等离子气、辅助气、载气全部采用高精度的质量流量控制器（MFC）来控制，具有流量连续可调、输出气流的精度高，保证了测试数据的准确性。
8、蠕动泵进样装置
仪器配置了通道十二滚轴的高精度蠕动泵，可同时保证进样的精度和防止积液，蠕动泵的转速连续可调，满足客户的多种测试要求。
9、观测位置自动调节
仪器采用二维的移动平台设计，可通过软件实时调节炬管的位置，通过反馈的信号值找到优化的观测位置，以获取较强的灵敏度，得出准确的测试效果。
10、超低的使用成本
仪器非工作状态下仪器电源、冷却水箱、气体全部关闭，不产生任何费用，仪器工作即开即用，无需长时间的光路预热。使用氩气纯度为99、99%即可，无需99、999%的高纯氩，成本节约至少三分之一。
11、灵敏度极高的检测器
仪器配置了高灵敏度进口光电倍增管（PMT）作为检测器，可针对不同的待测元素自动设置测试参数，以达到理想的检测状态，给出准确的测试结果。无需制冷，无需吹扫，使用寿命长。
仪器技术参数：
1、输入电源：电压交流220V，电流20A。
2、采用CzernyTurner型光路，焦距为1000mm。
3、离子刻蚀全息光栅，刻划面积（80×110）mm。
4、全自动一键点火，自动匹配，点火稳定、便捷。
5、采用同心圆雾化器搭配旋流雾室，1ppmMn强度＞1000000cps。
6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻线光栅）；≤0、008nm（3600刻线光栅）；≤0、015nm（2400刻线光栅）。
7、波长范围：190-460nm（4320刻线光栅）；190-500nm（3600刻线光栅）；190-800nm（2400刻线光栅）
8、自主研发全固态射频电源，输出功率800-1600W,连续可调，电源效率大于65%，工作频率27、12MHz，频率稳定性＜0、05%，功率输出稳定性＜0、05%。
典型元素检出限（μg/L）：
| 元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
| 波长(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
| 检出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
| 元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
| 波长(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
| 检出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
| 元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
| 波长（nm） | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
| 检出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
| 元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
| 波长(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
| 检出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
| 元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
| 波长(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
| 检出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
| 元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
| 波长(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
| 检出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
| 元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
| 波长(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
| 检出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
| 元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
| 波长(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
| 检出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
| 元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
| 波长(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
| 检出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
